直探头接触法探伤时，底面回波降低或消失的原因是（）。

直探头接触法探伤时，底面回波降低或消失的原因是（）。

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直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。

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直探头垂直扫查“矩形锻件”时，工件底面回波迅速降低或消失的原因是（）。

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铸钢件毛坯接触法探伤主要使用的探头是高频直探头或斜探头

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直探头接触法探伤时，（）要涂布耦合剂。

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大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时，如无缺陷，则探伤图形中只有发射脉冲和底波，如发现缺陷，则在底波之前显示（）。

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铸钢件毛坯接触法探伤主要使用的探头是双晶纵波探头和塑料保护膜直探头。

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在中薄板的直探头多次反射法探伤中，由于多次反射之间的（）作用，使小缺陷多次反射回波高度常常是第一次要比第二次偏低。

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在中薄板的直探头多次反射法探伤中，由于多次反射之间的叠加作用，致使小缺陷多次反射回波高度常常是第二次要比第一次高

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