超声波探伤，探头与被探管子表面作相对运动的轨迹是螺旋线。

在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。

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在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。

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将两个探头分别放在被检工件相对的表面上，其中一个探头发射另一个探头接收，通过观察声波穿透试件后的声压变化情况进行探伤的方法，称为（）。

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使探头与被检材料直接接触进行超声探伤的方法可能有哪几种？

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芯片表面与被检材料表面不平行的超声波探伤称为（）。

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超声波探伤，检验近表面缺陷，最有效的探头形式应是（）探头。

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芯片表面与被检材料表面不平行的超声探伤技术叫做：（）。

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只用一个晶片兼作发射和接收超声波的探伤方法称单探头法探伤。

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轮轴、轮对磁粉探伤时，被探部位表面须（）。

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