X射线是由高能电子的（）运动或原子内层轨道电子（）产生的短波电磁辐射。

X射线荧光光谱法是基于原子内层电子能级跃迁的光谱法。

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试样受X射线照射后，其中各元素原子的（）被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线称为二次X射线，或称为X射线荧光。

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X射线管的高能电子在与金属靶碰撞中因为电子数目巨大，碰撞是随机的，所以产生了连续的具有不同波长的X射线，即（）X射线。

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特征X射线是由原子的（）跃迁产生的。

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X射线管的高能电子在一次碰撞中耗尽其全部的能量，所产生的X射线光子具有最大的能量，它的波长最短，称为（）。

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原子的K层电子被逐出后形成空穴，被L层电子跃迁到K层填充，辐射出的X射线叫（）射线，由M层跃迁到K层辐射的X射线叫（）射线。

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X射线管中高能电子在撞击靶的过程中，极大部分的电子动能转化成热能，因此，阳极靶的温度非常高，必须用冷却水冷却。冷却靶用的水必须是高纯水。

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X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。

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能量色散X射线荧光光谱仪的Si（Li）检测器和前置放大器在室温下锂原子会在硅中扩散，由此影响检测器的性能。因此必须放置在液氮中，使电子噪声降低至可接受水平。

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