A波长
B强度
C浓度
D强度比
光谱定性分析的依据是谱线的()
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X射线光谱分析中是以()为分析依据的。
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X射线光谱分析中是以特征光谱线为()
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元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成正比。这就是()定律。此定律成为X射线光谱()分析的基础。
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X射线荧光光谱分析中,对于不同元素的同名谱线,随着原子序数的增加,波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点,主要是由各种元素的化学成分决定的。
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X射线荧光光谱分析中,各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长,随原子序数的大小而变化,与管电压和管电流的大小也有关。
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X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的()波长所组成,其中各条特征谱线的()强度各不相同。
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X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步:第一步是利用入射量子的能量激发,第二步则是以特征X射线(荧光)的形式放出能量。
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原子吸收光谱法的定量依据是()。
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