利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。

CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）

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斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。

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CSK-ⅡA试块上的人工反射体是Φ1×6 。

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CSK-IB试块上，Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定（）的（）

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CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。

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CSK-ⅡA试块上的Φ1×6横孔，在超声远场，其反射波高随声程的变化规律与（）相同

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CSK-IIIA试块上的Φ1x6mm横孔，在超声远场，其反射波高随声程的变化规律与（）相同

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对比试块上的人工反射体尺寸（）。

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黄铜板镀铬裂纹试块上有一层脆性镍铬镀层，这些试块上的裂纹（）

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