直探头从端部探测细棒状工件时,在底波后面出现的迟到波是由于声束射到工件侧面产生()所致。
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直探头纵波探伤时,工件上下表面不平行会产生()。
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直探头从端面对长条形工件探伤时,容易产生()。
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直探头接触法探伤时,发现缺陷回波较低,且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈()。
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水浸聚焦探头局部水浸法检验钢板时,声束进入工件后将因折射而发散。
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直探头接触法探伤时,()要涂布耦合剂。
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在有底波出现的直探头探伤中,缺陷一次回波的显示情况可能有()。
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探伤采用低频是为了改善声束指向性,提高探头灵敏度。
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直探头接触法探伤时,底面回波降低或消失的原因是()。
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