A非晶层
B单晶层
C多晶层
D超晶层
当注入剂量增加到某个值时,损伤量不再增加,趋于饱和。开始饱和的注入剂量称为()。
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哪种方法可以增加缺陷的积累率而降低临界注入量:()。
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在实际工作中,常常需要知道离子注入层内损伤量按()的分布情况。
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为了防止抽气设备对离子注入系统的油污染,可在靶室前增加一个()或采用无油泵。
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一般用()测量注入的剂量。
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损伤的分布与注入离子在在靶内的()的分布密切相关。
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下列哪些因素会影响临界注入量的大小:()。
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降低靶的温度,有利于非晶层的形成,所以临界注入量随之()。
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()就是用功率密度很高的激光束照射半导体表面,使其中离子注入层在极短的时间内达到高温,消除损伤。
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