A离子
B原子团
C电子
D带电粒子
()是与气体辉光放电现象密切想关的一种薄膜淀积技术。
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不可以对SiO2进行干法刻蚀所使用的气体是()。
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离子注入的主要气体源中,剧毒的有()。
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离子注入的主要气体源中,易燃、易爆的有()。
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有机性气体大多产生在下列哪道工艺()。
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离子源腔体中的气体放电形成()而引出正离子的。
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干氧氧化中,氧化炉内的气体压力应()一个大气压。
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硅晶片上之所以可以产生薄膜,出始于布满在晶片表面的许多气体分子或其它粒子,它们主要是通过()到达晶片表面的。
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()的气体源中一般包含H+,C+,B+,Cl+,O+等离子。
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