A均匀性
B表面平整度
C自由应力
D纯净度
E电容
在半导体工艺中,如果淀积的薄膜不是连续的,存在一些空隙,则()。
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()是与气体辉光放电现象密切想关的一种薄膜淀积技术。
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在热扩散工艺中的预淀积步骤中,磷的扩散温度为()。
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在热扩散工艺中的预淀积步骤中,砷和锑的扩散温度为()。
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在热扩散工艺中的预淀积步骤中,硼在900~1050℃的条件下,扩散时间大约()为宜。
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在热扩散工艺中的预淀积步骤中,硼在950~1100℃的条件下,扩散时间大约()为宜。
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在半导体工艺中,与氮化硅比较,二氧化硅更适合应用在()。
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下面哪一种薄膜工艺中底材会被消耗()。
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二氧化硅薄膜的折射率是表征其()学性质的重要参数。
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